DX-pct-350半導體晶圓 PCT加速老化試驗箱
半導體晶圓 PCT加速老化試驗箱(Pressure Cooker Test,壓力鍋測試箱)是一種用于評估半導體晶圓及其封裝材料在高溫、高濕和高壓環境下的老化性能的實驗設備。該測試箱通過模擬惡劣的工作環境,幫助研究人員評估半導體器件的長期可靠性和性能穩定性。
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更新日期
2025-11-05 - 02
廠商性質
生產廠家 - 03
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